当写入放大系数维持在1时，我们可以得到相对精确的固态硬盘寿命计算。但在实际应用中，大于1或者小于1的情况是由发生，这是什么原因造成的？

    这肯定让很多朋友想到了早些时候购买固态硬盘一定要认准支持Trim技术的产品，虽然目前这项技术在Win7下不使用raid模式都是自动打开的，但消费者对于其模糊的定义依然是固态硬盘寿命阴影下的另外一条索引。

知识补充：白话Trim技术的两点意义

    与机械硬盘式的覆盖旧数据写入方式相比，NADA闪存可以多线程同时写入和读取数据，每一条新数据都会首先利用闪存容量中未被利用的位置（空闲容量）来进行写入，这也是固态硬盘之所以在随机读写速度上有巨大优势的原因。但当闪存空间被写满后，没有空余的位置继续被使用时，速度就会慢下来导致性能降低。

    这种问题厂商方面试图通过更新固件来解决，但后来发现性能降低幅度在测试中并不明显，Trim技术的应用缓解了

    1.定期运行垃圾回收程序(GC)，简单说就是系统会利用固态硬盘空闲时将无用的数据清理掉，节约出更多空间来提供性能保障。

    2.当数据删除时候系统会通知SSD立即擦除掉该数据所占用的位置，换言就是让系统做为一个控制器固件来发布命令，将一些一定要做的准备提前做到，提速的同时也不会影响读写寿命。

    
Trim技术对于性能的提升也十分明显（点击查看大图）

    举个例子，假如一个128KB大小的区块内存放着一个128KB的文件，如果文件被删除并执行Trim操作，固态硬盘就可以避免把这个区块中的字节与对此区块的后续写入所需的其它字节相混合，这能大大减轻固态硬盘的"磨损"。

    所以Trim技术对于写入放大起到至关重要的的作用，虽然写入放大的原理不会产生小于1的比例，但Trim通过限制写入数据量的反复擦写来控制写入放大的倍数，根据不同的主控算法来减少擦写带来的耗损。

折磨测试：固态硬盘的极限写入容量

    通过笔者查证相关信息，收集到了一份国外玩家提供的固态硬盘耐久度测试，成绩表明了目前主流固态硬盘的极限写入容量大小，从而估算固态硬盘的寿命，所收集的数据现在看来也是极少数能够证明SSD体质问题的证据。

固态硬盘磁盘磨写指数耐力测试（数据来源于互联网）

    蓝色数值为固态硬盘在实际折磨测试中达到的寿命容量，红色区域数值为截至到测试结束所写入的容量大小。当产品到达蓝色数值容量后，官方给的MWI将耗尽，这和我们在前一页中估算的数值大体相似，一块拥有3000P/E或5000P/E的产品理论寿命值与官方给出的WMI是相符的，也可以理解为到这个容量（蓝色）后被写入彻底刷爆了。

    多数硬盘可以达到超过100TB的写入容量，这个数字非常可观，远远超过了我们日常使用的容量需求范围，事实证明了固态硬盘的寿命问题过于杞人忧天。